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接触位置测量装置研制成功
时间:2019-03-25 03:07:16 来源:三元新闻网 作者:匿名



最近,由中国科学院长春光学精密机械与物理研究所开发的非接触式位置测量装置正式通过了长春市的专家鉴定。评估委员会认为:符合合同要求,并提出了一些创新。结果填补了国内外线阵CCD使用的空白,同时测量了物体的四维坐标,技术指标达到国际领先水平。 。

据报道,长春光学精密机械研究所的研究人员于2002年开始开发非接触式位置测量装置。经过艰苦的设计和技术研究,他们解决了原理设计,大视场光学畸变校正等技术问题。强光补偿。他们成功开发了一种线性阵列CCD,由扭矩马达驱动扫描目标。一种非接触位置测量装置,其结合三角测量方法同时测量被测物体的四维坐标。该装置可测量待测物体的三个方向(H,Y,Z)和水平摆角a,测量范围大,测量精度高,测量时间短,抗干扰能力强,自动测量,不需要事先建立子坐标系。

据报道,该装置在国防,交通,采矿,城建等领域具有广阔的应用前景,不仅提高了我国测量设备的国际竞争力,而且为中国测量设备的发展提供了新的技术保障。相关技术领域。

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